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DX-HAST350F電子電路元件 hast 蒸汽老化試驗(yàn)箱
電子電路元件 hast 蒸汽老化試驗(yàn)箱(Highly Accelerated Stress Test)是一種用于加速電子元件、集成電路、電子設(shè)備等在濕熱環(huán)境下老化過(guò)程的設(shè)備。該試驗(yàn)箱通過(guò)模擬高溫、高濕的環(huán)境,快速測(cè)試電子元件在高應(yīng)力條件下的耐久性和可靠性,通常用于質(zhì)量控制和產(chǎn)品驗(yàn)證階段。
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更新日期
2024-12-14
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廠(chǎng)商性質(zhì)
生產(chǎn)廠(chǎng)家
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瀏覽量
336
DR-H203-2S光通信設(shè)備冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱
光通信設(shè)備冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱是一種專(zhuān)門(mén)用于測(cè)試和驗(yàn)證光通信設(shè)備(如光纖、光模塊、光收發(fā)器等)在惡劣溫度環(huán)境下的性能、穩(wěn)定性和可靠性的實(shí)驗(yàn)設(shè)備。光通信設(shè)備通常在實(shí)際應(yīng)用中面臨溫度波動(dòng),尤其是在戶(hù)外通信設(shè)施或數(shù)據(jù)中心等場(chǎng)景中,溫度變化較為劇烈。因此,冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱通過(guò)模擬這些溫度變化,幫助驗(yàn)證光通信設(shè)備在溫度極限條件下的適應(yīng)能力。
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更新日期
2024-12-13
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廠(chǎng)商性質(zhì)
生產(chǎn)廠(chǎng)家
- 03
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376
DR-H203-2R人工智能芯片熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱
人工智能芯片熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱是一種專(zhuān)門(mén)用于測(cè)試人工智能(AI)芯片在不同溫度環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性的實(shí)驗(yàn)設(shè)備。AI芯片廣泛應(yīng)用于自動(dòng)駕駛、智能家居、云計(jì)算、數(shù)據(jù)中心等領(lǐng)域,它們必須在惡劣溫度變化(冷熱沖擊)下保持穩(wěn)定的性能。熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱通過(guò)模擬實(shí)際工作環(huán)境中可能出現(xiàn)的溫度波動(dòng),幫助驗(yàn)證AI芯片的耐溫性、可靠性以及長(zhǎng)期穩(wěn)定性。
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更新日期
2024-12-13
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廠(chǎng)商性質(zhì)
生產(chǎn)廠(chǎng)家
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DR-H203-2Q模塊芯片冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱
模塊芯片冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱是一種專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)用于測(cè)試電子模塊、芯片及其組件在溫度變化和冷熱沖擊環(huán)境下的可靠性和耐久性的實(shí)驗(yàn)設(shè)備。隨著電子產(chǎn)品向更高性能、更小體積發(fā)展,電子模塊和芯片在各種工作條件下的可靠性變得尤為重要,因此需要進(jìn)行冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn),以確保其在實(shí)際應(yīng)用中能穩(wěn)定工作。
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更新日期
2024-12-13
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廠(chǎng)商性質(zhì)
生產(chǎn)廠(chǎng)家
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334
DR-H203-2P車(chē)載傳感器冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱
車(chē)載傳感器冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱是一種用于測(cè)試車(chē)載傳感器(如溫度傳感器、壓力傳感器、加速度傳感器等)在惡劣溫度變化和冷熱沖擊條件下的可靠性與耐久性的專(zhuān)業(yè)設(shè)備。車(chē)載傳感器廣泛應(yīng)用于汽車(chē)電子系統(tǒng)中,負(fù)責(zé)監(jiān)測(cè)車(chē)輛的各種參數(shù)并提供數(shù)據(jù)支持,以確保車(chē)輛的安全性、穩(wěn)定性和高效性。因此,這些傳感器必須能夠在汽車(chē)使用過(guò)程中遭遇的惡劣溫差和環(huán)境條件下穩(wěn)定工作。
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更新日期
2024-12-13
- 02
廠(chǎng)商性質(zhì)
生產(chǎn)廠(chǎng)家
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